재료의 조성 측정(測定) 방법(XRD, TGA, DTA, FTIR, AES, EDS, XRF, ICP-MS, AAS, XPS…
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작성일 22-02-27 04:12
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재료의 조성 측정(測定) 방법(XRD, TGA, DTA, FTIR, AES, EDS, XRF, ICP-MS, AAS, XPS)
1. XRD 구성
4. 응용예
4. 색인서(Index book)
(3) DTA peak 해석
설명
재료의 조성 측정방법(XRD, TGA, DTA, FTIR, AES, EDS, XRF, ICP-MS, AAS, XPS) 여러가지 측정 방법에 대한 원리, 실험방법, 적용범위 재료의 조성 측정방법
재료의 조성 측정(測定) 방법(XRD, TGA, DTA, FTIR, AES, EDS, XRF, ICP-MS, AAS, XPS)
(2) 구성장치
4. 전형적인 TG-curve
4. FTIR (Fourier transform infrared spectroscopy)
3. ICDD card
(3) AES分析의 종류
(4) 측정(measurement) 방법
(5) 정량 分析 (Quantitative analysis)
4)Filter
7. XRF (X-Ray Flourescence Spectrometry)
(2) 전자저울 종류
(4) 충전效果(효과)(charging effect)
(1) AAS원리
(2) XRF의 이용
5. AES(Auger Electron Spectroscopy)
순서
(1) 기본원리
(4) FTIR에서의 Sampling 기법
10. XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy)
(2) ESCA 장치의 주요 구조
(3) 감도 및 검출 한계
3. 분해반응속도 항수의 계산
재료의 조성 측정(measurement)방법
1. 분말X선회절법에 의한 동정법의 특징
(5) 分析방법
(4) 적용범위
1. X-선 회절의 조건은?
8. ICP-MS (Inductively Coupled Plasma)
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(1) 기본원리
(1) 장치 구성
(1) ICP-MS란?
(1) 장치 구성
(1) 기본원리
(7) 장점과 단점
(3)XRD 시스템
6. EDS(Energy Dispersive X-ray Spectroscopy)
(5) 주요 적용 범위
(5) DTA의 특징
(2) AAS의 구성
3. DTA (Differential Temperature Analyzer)
(1) X-선 형광이란
9. AAS (atomic absorption spectroscopy)
(2) FTIR의 property(특성)
(4) 分析방법
1. 조성의 分析
레포트 > 공학,기술계열
(3) FTIR의 구성
1. TG 곡선의 의미
(4)XRD 실험방법
(3) TG의 가중기법
(4) 화학적 이동 (Chemical shift)
여러가지 측정(測定) 방법에 대한 원리, 實驗방법, 적용범위
(1)X-ray 기본원리
3. 分析에 이용하는 X-ray는?
(3) 광전자 스펙트럼 (Photoelectron spectrum)
재료의 조성 측정(測定) 방법
(3) 기존 장비와의 비교
(4) 시차온도곡선의 이해
2. 열안정성
(3) XRF의 종류
3. 미분곡선을 이용하는 이점
1) X-ray 발생장치(X-ray Generator)
Reference
2. TGA (ThermoGravimetric Analysis)
3) 계수기록장치(Electronic Circuit Panel)
(2) AES/SAM의 구조
(2) EDS를 이용한 정ingredient석
(2)Bragg’s Law
1. XRD (X-ray Diffraction)
2. Direction of Diffracted Beam
(3) EDS를 이용한 원소의 정량分析
(6) 시료 준비
(1) EDS 개요
2. TG 미분곡선
조성측정방법 , XRD , TGA , DTA , FTIR , AES , EDS , XRF , ICP-MS , AAS
1. X-ray란?
(2) 결과 分析
2. X선에 의한 동정법의 한계
2). Goniometer
2. X-ray의 발생
다.
